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Control deslizante del analizador AJX300M-PAR● Control deslizante del analizador ● Para microscopio metalográfico vertical AJX-300MR , AJX-300MRT , AJX-310MRBD , AJX-310MRTBD
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Polarizador AJX300M-PRT para luz transmitida● Polarizador para luz transmitida ● Para microscopio metalográfico vertical AJX-300MR , AJX-300MRT , AJX-310MRBD , AJX-310MRTBD
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Control deslizante del polarizador AJX300M-PR● Control deslizante del polarizador ● Para microscopio metalográfico vertical AJX-300MR , AJX-300MRT , AJX-310MRBD , AJX-310MRTBD
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Objetivo plano infinito sin estrés (transmisión) para microscopio polarizador serie APM-30Orden NO. Revista N / A Distancia de trabajo APM30-NS4X 4X 0.11 12,1 mm APM30-NS10X 10X 0,25 4,64 mm APM30-NS20X 20X 0 .40(S) 2,41 mm APM30-NS40X 40X 0.66(S) 0,65 mm Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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Condensador acromático oscilante APM30-NA0.9 NA0.9/0.13● NA0.9/0.13, unidad polarizadora (con escala, giratoria 360°, bloqueable) ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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Filtro NK310-FB● Azul ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30 y microscopio biológico vertical NK-300T y NK-310T
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Analizador APM30-A360 giratorio 360°● Analizador giratorio 360°, tipo módulo, se puede bloquear ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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Lente Bertrand APM30-BEL POL Media● Lente Bertrand, incorporada, enfoque ajustable ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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Compensador de placa de prueba de deslizamiento λ/4 APM30-FCS● λ/4 deslizamiento ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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Compensador de placa de prueba APM30-FCR λslip (rojo de primera clase)● λslip (rojo de primera clase) ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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Compensador de placa de prueba de cuña de cuarzo APM30-QW (Ⅰ-Ⅳ)● Cuña de cuarzo (Ⅰ-Ⅳ) ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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Objetivo semiapocromático Infinity PlanRevista N / A Distancia de trabajo 4X 0,16 17,15 mm 10X 0.3 7,68 mm 20X 0.5 1,96 mm 40X 0,75 0,78 mm 100X 1.30 (Petróleo) 0,15 mm ● Para microscopio de fluorescencia FM-900M FM-900L
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Objetivo acromático plan infinito serie X40-IPAOrden NO. Revista N / A Distancia de trabajo X40-IPA4X 4X 0.10 15,0 mm X40-IPA10X 10X 0,25 10,8 mm X40-IPA20X 20X 0.40 1,50 mm X40-IPA40X 40X 0.65 0,80 mm X40-IPA60X 60X 0,85 0,30 mm X40-IPA100X 100X 1.25 0,21 mm ● Para microscopio biológico de la serie NK-X40B y NK-X40T
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Objetivo del plan infinito LWDRevista N / A Distancia de trabajo 4X 0.11 12,1 mm 20X 0.45 5,8 mm 40X 0.65 5,1 mm ● Para microscopio biológico invertido ABM-320T
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Objetivos del Fluor del Plan Infinito de LWDRevista N / A Distancia de trabajo 10X 0.3 14,0 mm 20X 0.45 6,6 mm 40X 0.65 3,9 mm ● Para microscopio biológico invertido ABM-320T
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Objetivos de contraste de fase de plan infinito LWD (tanto para campo claro como para contraste de fase)Revista N / A Distancia de trabajo 10X 0,25 10,3 mm 20X 0.45 5,8 mm 40X 0.65 5,1 mm ● Para microscopio biológico invertido ABM-320T
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Objetivo de contraste de fase acromático plan infinitoOrden NO. Revista N / A Distancia de trabajo X40-PH40X 40X 0.65 0,8 mm X40-PH100X 100X 1.25 0,21 mm ● Para microscopio biológico de la serie NK-X40B y NK-X40T
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Polarizador de microscopio APM50-PRF para iluminación por reflexión● Polarizador para iluminación de reflexión para microscopio polarizador de la serie APM-50RFT
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AJXMPS-DIC1 Contraste de interferencia diferencial (DIC)● Contraste de interferencia diferencial (DIC) para microscopio metalográfico de la serie AJX-MPS
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PI103C5BDIA Boquilla quíntuple B&D (con ranura DIC)● Revólver quíntuple B&D (con ranura DIC) para microscopio metalográfico de la serie AJX-MPS
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