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  • Alfabéticamente, Z-A
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  • Precio, mayor a menor
  • Fecha: antiguo(a) a reciente
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  • Compensador de placa de prueba APM30-FCR λslip (rojo de primera clase)
    Compensador de placa de prueba APM30-FCR λslip (rojo de primera clase)
    ● λslip (rojo de primera clase) ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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  • Compensador de placa de prueba de deslizamiento λ/4 APM30-FCS
    Compensador de placa de prueba de deslizamiento λ/4 APM30-FCS
    ● λ/4 deslizamiento ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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  • Condensador acromático oscilante APM30-NA0.9 NA0.9/0.13
    Condensador acromático oscilante APM30-NA0.9 NA0.9/0.13
    ● NA0.9/0.13, unidad polarizadora (con escala, giratoria 360°, bloqueable) ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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  • Compensador de placa de prueba de cuña de cuarzo APM30-QW (Ⅰ-Ⅳ)
    Compensador de placa de prueba de cuña de cuarzo APM30-QW (Ⅰ-Ⅳ)
    ● Cuña de cuarzo (Ⅰ-Ⅳ) ● Para : Microscopio polarizador serie APM-30
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  • Oculares de microscopio APM50-10XOculares de microscopio APM50-10X
    Oculares de microscopio APM50-10X
    ● Aumento de los oculares: 10x ● Campo de visión de los oculares: 22 mm ● Para microscopio polarizador trinocular serie APM-50
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  • Oculares de microscopio APM50-10XTR con crucetaOculares de microscopio APM50-10XTR con cruceta
    Oculares de microscopio APM50-10XTR con cruceta
    ● Aumento de los oculares: 10x ● Campo de visión de los oculares: 22 mm ● Oculares integrados en forma de cruz ● Para microscopio polarizador trinocular serie APM-50
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  • Oculares de microscopio APM50-10XTRC con escala de retículaOculares de microscopio APM50-10XTRC con escala de retícula
    Oculares de microscopio APM50-10XTRC con escala de retícula
    ● Aumento de los oculares: 10x ● Campo de visión de los oculares: 22 mm ● Escala de retícula incorporada en los oculares ● Para microscopio polarizador trinocular serie APM-50
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  • Oculares de microscopio APM50-10XTRG con rejilla (malla)Oculares de microscopio APM50-10XTRG con rejilla (malla)
    Oculares de microscopio APM50-10XTRG con rejilla (malla)
    ● Aumento de los oculares: 10x ● Campo de visión de los oculares: 22 mm ● Oculares con rejilla incorporada (malla) ● Para microscopio polarizador trinocular serie APM-50
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  • Analizador APM50-A360MCAnalizador APM50-A360MC
    Analizador APM50-A360MC
    ● Rotación del dial de 360°, lectura mínima de escala: 0,1° (escala Vernier) ● Para microscopio polarizador trinocular serie APM-50
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  • APM50-AS34 Platina acoplableAPM50-AS34 Platina acoplable
    APM50-AS34 Platina acoplable
    ● Rango de movimiento 30 mm x 40 mm ● Para microscopio estereoscópico con sistema óptico paralelo infinito serie APM-50
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  • Filtro APM50-FB
    Filtro APM50-FB
    ● Azul ● Para microscopio estereoscópico con sistema óptico paralelo infinito serie APM-50
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  • Filtro APM50-FB45
    Filtro APM50-FB45
    ● Filtro azul ⊘ 45 mm ● Para microscopio estereoscópico con sistema óptico paralelo infinito serie APM-50
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  • Filtro APM50-FFR
    Filtro APM50-FFR
    ● Escarchado ● Para microscopio estereoscópico con sistema óptico paralelo infinito serie APM-50
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  • Filtro APM50-FG
    Filtro APM50-FG
    ● Verde ● Para microscopio estereoscópico con sistema óptico paralelo infinito serie APM-50
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  • Filtro APM50-FY
    Filtro APM50-FY
    ● Amarillo ● Para microscopio estereoscópico con sistema óptico paralelo infinito serie APM-50
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  • Polarizador de microscopio APM50-PRF para iluminación por reflexión
    Polarizador de microscopio APM50-PRF para iluminación por reflexión
    ● Polarizador para iluminación de reflexión para microscopio polarizador de la serie APM-50RFT
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  • Compensador de placa de prueba APM50-λFET
    Compensador de placa de prueba APM50-λFET
    ● Placa de prueba vacía ● Para microscopio estereoscópico con sistema óptico paralelo infinito serie APM-50
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  • Compensador de placa de prueba APM50-λFGW
    Compensador de placa de prueba APM50-λFGW
    ● Placa de onda cuádruple ● Para microscopio estereoscópico con sistema óptico paralelo infinito serie APM-50
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  • Compensador de placa de prueba APM50-λFQW
    Compensador de placa de prueba APM50-λFQW
    ● Cuña de cuarzo ● Para microscopio estereoscópico con sistema óptico paralelo infinito serie APM-50
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  • Compensador de placa de prueba APM50-λFR
    Compensador de placa de prueba APM50-λFR
    ● λPlaca roja de primer orden ● Para microscopio estereoscópico con sistema óptico paralelo infinito serie APM-50
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